双射线源微纳米CT phoenix v|tome|x m

名称及型号：双射线源微纳米CT phoenix v|tome|x m

厂家：通用

主要功能：双射线源微纳米CT也称X射线微断层摄影术，是一种非侵入性和非破坏性成像技术，在不破坏样品的情况下，利用X射线对样品进行扫描，能够获得扫描样品的三维图像，获取内部详尽的三维结构信息。目前在生命科学、油气地质学、沉积学、考古学、材料科学和电子学领域获得了广泛的应用，适用于陶瓷、碳材料、高分子材料、金属、无机非金属材料、地质古生物样品以及生物组织的非破坏性检测。